Descripción:
• La familia Xradia Versa de XRM submicrónica utiliza detectores de rayos X patentados dentro de una torreta de objetivo de microscopio para permitir una mayor ampliación en varios tipos y tamaños de muestras, y reducir la resolución espacial a 500 nm con vóxeles mínimos alcanzables de <40 nm.
• Microscopía no destructiva a escala submicrométrica
• Mayor flujo y escaneos más rápidos sin comprometer la resolución
• Imágenes in situ para la caracterización no destructiva de microestructuras en entornos controlados y a lo largo del tiempo
• Actualizable y ampliable con futuras innovaciones y desarrollos
