MICROSCOPIOS MEB

3DSM Realice una reconstrucción 3D adecuada, de la superficie de las muestras examinadas con microscopios electrónicos equipados con un detector aBSD (retrodispersión anular) o AsB (retrodispersión selectiva angular, familia GeminiSEM solamente). Combine 3DSM con SmartSEM, el software que opera el SEM, para obtener imágenes 3D secuenciales o en tiempo real, u opere en modo independiente para visualizar archivos de proyectos archivados. Benefíciese de tiempos de reconstrucción y operación en tiempo real < 2 s con GeminiSEM; Sigma entrega las imágenes secuencialmente. El algoritmo subyacente de "forma a partir de sombreado" maneja la reconstrucción. Realice mediciones básicas, como dimensiones de perfil y evaluaciones de rugosidad 2D y 3D, directamente en el modelo 3D resultante, con unos pocos clics del mouse. 3DSM ahora viene con una nueva GUI, orientada a lo largo de los pasos del flujo de trabajo: posicionar, adquirir y corregir. Benefíciese de los nuevos valores de rugosidad estándar (Ra, Sa) y de los nuevos filtros para corregir la ondulación y el ruido. Metrología 3DSM Actualice su ZEISS FE-SEM con el paquete opcional de metrología 3DSM para obtener mediciones y documentación automáticas, de acuerdo al ISO 25178, DIN y ASME y otras normas para control de rutina. Analice superficies en 3D y genere registros de medición completos. Caracterice superficies y perfiles, incluidos parámetros como la altura del paso, la distancia, el contorno a escala nanométrica, la rugosidad y la ondulación, el tamaño de partícula y grano. Cree informes metrológicos completamente trazables.