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Microscopio Primotech 20% Oferta POL

MICROSCOPIOS SIGMA

Descripción:

Sigma 300
Sigma 500
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo para imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada • Resolución alcanzable a 30 kV: 1.0 nm • Adapte Sigma a sus necesidades utilizando la última tecnología de detección y caracterice todas sus muestras. • Caracterice la composición, la cristalografía y la topografía de la superficie con el detector de retrodispersión anular (aBSD). Ofrece excelentes imágenes de bajo kV en todas las condiciones de vacío. Benefíciese de una sensibilidad mejorada, una mayor relación señal / ruido y mayor velocidad. • Disfrute de una nueva generación de detectores de electrones secundarios (SE). Benefíciese de los detectores C2D y VPSE de Sigma en modo de presión variable: trabajando a bajo vacío, puede obtener imágenes nítidas con hasta un 85% más de contraste. • Un flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar toda la funcionalidad de su Sigma. Para un tiempo de obtención de imágenes rápido, especialmente en un entorno multiusuario. • Combine microscopía electrónica de barrido y análisis elemental: la mejor geometría EDS de Sigma aumenta su productividad analítica, especialmente en muestras sensibles. • Obtenga datos analíticos a la mitad de la corriente de la sonda y al doble de velocidad.

Descripción:

Sigma 300
Sigma 500
Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo para imágenes de alta calidad y microscopía analítica avanzada • Resolución alcanzable a 30 kV: 0.8 nm • Adapte Sigma a sus necesidades utilizando la última tecnología de detección y caracterice todas sus muestras. • Caracterice la composición, la cristalografía y la topografía de la superficie con el detector de retrodispersión anular (aBSD). Ofrece excelentes imágenes de bajo kV en todas las condiciones de vacío. Benefíciese de una sensibilidad mejorada, una mayor relación señal / ruido y mayor velocidad. • Disfrute de una nueva generación de detectores de electrones secundarios (SE). Benefíciese de los detectores C2D y VPSE de Sigma en modo de presión variable: trabajando a bajo vacío, puede obtener imágenes nítidas con hasta un 85% más de contraste. • Un flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar toda la funcionalidad de su Sigma. Para un tiempo de obtención de imágenes rápido, especialmente en un entorno multiusuario. • Combine microscopía electrónica de barrido y análisis elemental: la mejor geometría EDS de Sigma aumenta su productividad analítica, especialmente en muestras sensibles. • Obtenga datos analíticos a la mitad de la corriente de la sonda y al doble de velocidad.