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MICROSCOPIOS CROSSBEAM

Descripción:

Crossbeam
- Extraiga información de muestra real de sus imágenes SEM de alta resolución utilizando la óptica electrónica Gemini. - La columna Ion-escultor FIB introduce una nueva forma de procesamiento de FIB: al minimizar el daño de la muestra, maximizará la calidad de la muestra y realizará experimentos más rápido al mismo tiempo. - Al preparar muestras TEM, utilice las capacidades de bajo voltaje del FIB escultor de iones: obtenga muestras ultrafinas mientras mantiene el daño por amorfización al mínimo. - Dentro de la familia ZEISS Crossbeam, aproveche la presión variable en Crossbeam 350 o utilice Crossbeam 550 para sus caracterizaciones más exigentes. - Mejore sus estudios in situ con el láser Crossbeam: el flujo de trabajo LaserFIB le permite obtener un acceso rápido a estructuras profundamente enterradas utilizando el láser de femtosegundos.